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濃縮儀綜合利用離心力、加熱和外接真空泵提供的真空作用來進行溶劑蒸發(fā)，可同時處理多個樣品而不會導致交叉污染。冷阱能有效捕捉大部分對真空泵有損害的溶劑蒸氣，對高真空油泵提供有效的保護。真空泵使系統(tǒng)處于真空狀態(tài)，降低溶劑的沸點，加快溶劑的蒸發(fā)速率。濃縮儀產(chǎn)品優(yōu)勢：1.微電腦控制，一鍵啟動、恒溫加熱、逐次進樣、自動濃縮定量、智能語音提示。2.燒杯轉(zhuǎn)換定量或瓷蒸發(fā)皿直接定量兩種濃縮模式，國標方法，樣品無需轉(zhuǎn)移，減少轉(zhuǎn)移過程造成樣品損失，極大滿足用戶需求。3.遠紅外輻射加熱，功率可調(diào)、恒...

前言電子級多晶硅金屬雜質(zhì)含量是評價其產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標之一，其雜質(zhì)含量的高低直接影響下游晶圓制造產(chǎn)品質(zhì)量，所以對其金屬雜質(zhì)含量的控制至關重要。本實驗參照《GB∕T37049-2018電子級多晶硅中基體金屬雜質(zhì)含量的測定電感耦合等離子體質(zhì)譜法》，采用LabMS3000sICP-MS測試電子級多晶硅中基體金屬雜質(zhì)含量。LabMS3000s采用的加強型離子透鏡和偏轉(zhuǎn)技術，結合高性能冷等離子技術和新一代碰撞反應池技術，可有效消除干擾，從而獲得更低的檢測限、背景等效濃度和準確的超痕量分...

前言硅片是半導體制造業(yè)的基礎材料，硅片表面極其少量的金屬雜質(zhì)元素污染都可能導致器件的功能喪失或者可靠性變差，隨著半導體制程的不斷提高，對金屬離子污染物的控制也越來越嚴格。本實驗參考《GB∕T39145-2020硅片表面金屬元素含量的測定電感耦合等離子體質(zhì)譜法》，采用LabMS3000sICP-MS測定硅片表面雜質(zhì)元素含量。LabMS3000s采用的加強型離子透鏡和偏轉(zhuǎn)技術，結合高性能冷等離子技術和新一代碰撞反應池技術，可有效消除干擾，從而獲得更低的檢測限、背景等效濃度和準確的...

摘要每年全球大量廢棄塑料進入環(huán)境，分解形成微塑料，目前全球都把微塑料當做一個嚴重的環(huán)境污染源。環(huán)境中土壤受到微塑料污染，則對土壤中微塑料分析變得必要。熱裂解可對此微塑料進行有效的分析。本應用采用Pyroprobe6150熱裂解串聯(lián)GC-MS利用微塑料的特征裂片組分對環(huán)境中土壤的微塑料進行定性定量分析。1.儀器設備1.1Pyroprobe6150熱裂解儀，CDSAnalytical1.2Flex-HPSE全自動高效快速溶劑萃取系統(tǒng)，萊伯泰科1.3M*p-10多通道平行濃縮儀，萊...

前言歐盟ROHS2.0對電子電氣產(chǎn)品中多溴聯(lián)苯和多溴聯(lián)苯醚進行了含量0.1%限制，中國的GB/T26572-2011也對電子電氣產(chǎn)品中多溴聯(lián)苯和多溴聯(lián)苯醚進行了含量限制，也是0.1%。相對應的檢測方法標準分別是IEC62321:2008和GB/T26125-2011，檢測方法主要是電子電氣產(chǎn)品樣品取樣后，利用有機溶劑溶解，經(jīng)過索氏萃取裝置進行萃取，再進入GC-MS分析。本實驗首先利用熱裂解將樣品閃蒸，多溴聯(lián)苯和多溴聯(lián)苯醚氣化進入GC-MS分析，則PY-GC-MS可以作為粗篩，...

作為樣品前處理領域的行業(yè)先鋒，通過20余年的技術積淀，萊伯泰科已研發(fā)生產(chǎn)出各類成熟的色譜前處理產(chǎn)品，包括快速溶劑萃取儀、吹掃捕集儀、固相萃取儀、熱裂解儀、熱脫附、凝膠凈化系統(tǒng)等，可以多方位滿足色譜分析的前處理需求，并已廣泛應用于環(huán)境檢測、食品安全、醫(yī)療衛(wèi)生、疾病控制、材料研究、生命科學等領域。隨著色譜技術在各行業(yè)更加廣泛的應用與普及，我們特開設了“色譜前處理技術專題”，展示萊伯泰科前處理產(chǎn)品的新技術和應用，便于大家更全面地了解各類色譜前處理技術。第一期：熱裂解技術的現(xiàn)狀與展望...